Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

DDR测试治具

提供8位及16位的测试治具,限位框可更换,导电体采用GCR或者探针,DDR3和DDR4结构兼容;最高频率可达3.2GHz.

  • 引脚数: 不限
  • Sireda:
  • 间距: 大于0.35mm

DDR测试治具

1501071209540632.png

1498021773838812.gifDDR3 DDR4 DDR5 颗粒的测试、诊断、验证

1498021773838812.gif失效分析

1498021773838812.gifDDR颗粒筛选

1672018183148624.jpg



1512469243118772.png


1512469243819791.png

1503280439935046.jpg

  • DDR测试治具可适用于DDR颗粒的测试,筛选

  • 最高可支持3.2GHz

  • 提供GCR及Pogo Pin二种导电方式

  • 采用测试专用 PCB, 金手指、IC焊盘镀金层是普通PCB的5倍,保证测试

    治具有更好的导通性和耐磨性

  • 高精度金属IC定位框,保证IC定位精度

  • 结构设计兼容DDR4, DDR3升级到DDR4只需更换PCBA

  • 产品通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试不同尺寸的颗粒


1503280498569006.jpg

机械性能

测试座材料: Peek陶瓷/ FR-4

座头材料:  AL

探针类型:       弹簧探针/导电胶

工作温度:  -40 ~ 140度

探针寿命:        10万次

弹簧弹力:  20g ~ 30g per Pin


电性能

额定电流:  3A

DC电阻:          80毫欧(最大)



产品编码

名称

描述

封装

引脚数

导电体

703-0001227

DDR5 Test  Fixture

BGA78 0.8mm DDR5x8 PCR 8ea 8824A

BGA

82

PCR

703-0001320

DDR5 Test  Fixture

BGA106 0.8mm DDR5x16 10x14.1mm PCR 4ea

BGA

106

PCR

703-0000696

DDR4 Test  Fixture

BGA78 0.8mm DDR4x8 PIN D C 8ea

BGA

78

Pogo Pin

703-0000822

DDR4 Test  Fixture

BGA78 0.8mm DDR4x8 PCR TN 8ea

BGA

78

PCR

703-0000799

DDR3 Test  Fixture

BGA78 0.8mm DDR3x8 PCR TN 8ea

BGA

78

PCR

703-0001006

DDR4 Test  Fixture

BGA78 0.8mm DDR4x8 10.3x11mm JI PCR 18ea

BGA

78

PCR

703-0001334

DDR4 Test  Fixture

BGA78 0.8mm DDR4x8 JI PCR 8ea KO-10081

BGA

78

PCR

703-0000969

DDR4 Test  Fixture

BGA78 0.8mm DDR4x8 2.5PIN 8ea

BGA

78

Pogo Pin

703-0000981

DDR4 Test  Fixture

BGA78 0.8mm DDR4x8 JI PCR 8ea

BGA

78

PCR

703-0000800

DDR3 Test  Fixture

BGA96 0.8mm DDR3x16 PCR TN 4ea

BGA

96

PCR

703-0000823

DDR4 Test  Fixture

BGA96 0.8mm DDR4x16 PCR TN 4ea

BGA

96

PCR

703-0001156

DDR4 Test  Fixture

BGA96 0.8mm DDR4x16 KO8598A JI PCR 4ea

BGA

96

PCR

703-0001225

DDR4 Test  Fixture

BGA96 0.8mm DDR4x16 KO8598A PIN 4ea

BGA

96

Pogo Pin




我司提供DDR2,DDR3,DDR4 DDR5测试方案,并根据不同的客户需求开发了导电胶款(GCR)、探针款(Pogo Pin), 更多DDR测试治具方案请点击DDR治具目录

如需提供定制化的测试治具方案,请联系sales@sireda.com