Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

GDDR测试治具

GDDR显存颗粒的量产测试,筛选测试等,支持频率高达10GHz或更高,优良的散热系统设计,高的测试稳定性和可靠性。

  • 引脚数: 1 ~ 199
  • Sireda:
  • 间距: 0.65mm~0.8mm

GDDR测试治具

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1498021773838812.gif GDDR显存芯片的测试、诊断、验证

1498021773838812.gif GDDR显存颗粒筛选

1498021773838812.gif 测试GDDR颗粒频率可达10GHz或更高

1498021773838812.gif Mini Socket的尺寸可定制

 

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                                                         Mini Socket


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  • GDDR测试治具可适用于GDDR显存颗粒的测试,筛选

  • 最高可支持10GHz或更高频率的GDDR颗粒

  • 优良的冷却系统,使得使得测试稳定性和可靠性高

  • 可同时测试多颗GDDR显存芯片,效率高

  • 根据客户的主板进行定制化设计


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机械性能

测试座材料: Peek陶瓷/ PPS

治具材料:  AL,CU,POM

接触类型:       导电胶

工作温度:  -40 ~ 140度

寿命:              10万次

弹力:          20g ~ 30g per Pin


电性能

额定电流:  1A

DC电阻:          100毫欧(最大)


产品编码名称描述封装引脚数导电体
材质备注
703-0000281GDDR显存治具
BGA170 0.8mm GDDR5 DT100 12x14mm 4ea BGA170GCRPPS/Peek陶瓷
703-0000507GDDR显存治具BGA170 0.8mm GDDR5 DT100 12x14mm 4ea GTX1050BGA170GCRPPS/Peek 陶瓷
703-0000694GDDR显存治具BGA180 0.75mm GDDR6 DT100 12x14mm 4ea 9EA77BGA180GCR
PPS/Peek陶瓷
703-0000707GDDR显存治具BGA170 0.8mm GDDR5 DT100 12x14mm 4ea 1650 8GBGA170GCR
PPS/Peek陶瓷
703-0000721GDDR显存治具BGA170 0.8mm GDDR5 DT075 12x14mm 4ea RTX1650 4GBGA170GCR
PPS/Peek陶瓷

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