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BGA200 LPDDR4 测试盒

BGA200 LPDDR4 测试盒

BGA200 LPDDR4 测试盒用于BGA200芯片的功能测试 测试内容含但不限于如下: RD test, WR test, Self Refresh test, Address test, Moving inversions, Block move, Bit fade test, Random number sequence, RH test, Scan test, 等

  • 引脚数： 200
  • Sireda：
  • 间距： 0.65mm

BGA200 LPDDR 测试盒

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1498021773838812.gif 基于BGA200的FT级测试平台；

1498021773838812.gif用于BGA200 LPDDR4 或LPDDR4x的功能测试盒；

1498021773838812.gif测试软件中采用了优良的算法，测试稳定可靠；

1498021773838812.gif用于美光，三星，及国内各大厂家的BGA200 LPDDR 芯片测试


测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

1503280439935046.jpg

  • 提供3款不同容量的测试盒，分别为 2GB, 3GB, 4GB；

  • 超低压core 和I/O 供电：

          - VDD1 = 1.70~1.95V; 1.80V 名义值

          - VDD2 = 1.06~1.17V; 1.10V 名义值

          - VDDQ = 0.57~0.65V; 0.60V 名义值

         或 VDDQ = 1.06~1.17V; 1.10V n名义值

  • 频率范围 - 1866~10MHz (每pin速率范围: 3733~20 Mb/s)

  • 2GB容量的芯片测试时间为15~20分钟，3GB和4GB的芯片测试时间更长；

  • 自带屏幕，显示即时测试状态，和测试结果；

  • 测试操作简便，直接通过Type C接头加上电就可测试，维护容易； 

  • 支持热插拔。

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机械性能

测试座材料：　AL, PEI

座头材料：　　AL, PEI

接触类型：       PCR导电胶

工作温度：　　-25~ 85度

接触寿命：        5万次

弹簧弹力：　　20g ~ 30g 每Pin


电性能

额定电流：　　2A

DC电阻：          <100毫欧



BGA200 LPDDR 测试盒

  • BGA200 LPDDR 测试盒用于BGA200芯片的功能测试；

  • 用于智能手机，平板电脑，智能电脑，机顶盒，智能音箱，行车记录仪，智能摄像头等的BGA200封装的芯片，均可以采用此测试盒进行FT测试；

  • 测试内容含但不限于如下: RD test, WR test, Self Refresh test, Address test, Moving inversions, Block move, Bit fade test, Random number sequence, RH test, Scan test, 等；

  • 如果您对 BGA200 LPDDR测试盒感兴趣，或有疑问，欢迎发送邮件至：sales@sireda.com. 欢迎来询！

 Sireda Technology|Test Socket|test fixture


标签: BGA200 测试 BGA200 LPDDR 测试 BGA200 功能测试 BGA200 LPDDRx 测试

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