顶窗式OT款老化座 烧录座
eMMC, UFS等的顶窗式OT款老化座/烧录座 |
eMMC BGA153 老化座 711-0000004
弹簧探针 微针弹片 |
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机械性能 测试座材料： PEI 座头材料： PEI 探针类型： 弹簧探针 工作温度： -40 ~ 125度 探针寿命： 2~3万次 弹簧弹力： 20g ~ 30g per Pin 电性能 额定电流： 1A DC电阻： 100毫欧(最大) |
产品编码 | 名称 | 描述 | 封装 | 引脚数 | 材质 | 备注 |
711-0000001 | 老化测试座 | BGA153 0.5mm eMMC OT101 11.5x13mm | BGA | 33 | PEI | |
711-0000002 | 老化测试座 | BGA152 1.0mm Nand OT102 14x18mm | BGA | 88 | PEI | 微针弹片 |
711-0000037 | 老化测试座 | WSON8 1.27mm OT101 6x8m | WSON8 | 10 | PEI | |
711-0000010 | 老化测试座 | BGA254 0.5mm eUFS 2.2 OT101 11.5x13mm | BGA | 62 | PEI | |
711-0000014 | 老化测试座 | SSOP20 0.65mm OT101 7.2x7.8mm | SOP | 20 | PEI | |
711-0000036 | 测试座 | USON8 0.5mm OT101 2x3/3x2mm | USON8 | 8 | PEI | |
711-0000118 | 测试座 | QFN64 0.35mm OT101 4x9.5mm | QFN64 | 64 | PEI | |
711-0000026 | 测试座 | QFN56 0.4mm OT101 7x7mm | QFN56 | 56 | PEI |
可提供BGA、LGA、QFN、QFP、SOP等封装的手动老化座， 更多翻盖下压测试座请点击顶窗式OT老化座目录，或联系我们：sales@sireda.com.
