Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

SOP翻盖开尔文测试座

开尔文测试座用于开尔文四线检测,也被称之为四端子检测(4T检测, 4T sensing)、四线检测或4点探针法,它是一种电阻抗测量技术,使用单独的对载电流和电压检测电极,相比传统的两个终端( 2T)传感能够进行更精确的测量。

  • 引脚数:
  • Sireda:
  • 间距:

开尔文测试座- 手测

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1498021773838812.gif适用于SOP封装的模拟电路测试

1498021773838812.gif适用的封装有:SOP, PSOP, QSOP, SSOP, TSSOP, 等

1498021773838812.gif适用于间距0.5mm及以上产品

1498021773838812.gif寿命30万次以上



    斯纳达斯纳达

       TSSOP16 0.65mm 6.55x5.1mm





                        

       斯纳达

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  • 开尔文测试座用于SOP封装的模拟电路测试,电流测试值更准确

  • SOP封装的每个针脚均为2点接触。

  • 可以根据客户的要求设计转接模组。

  • 根据客户的需求,也可以定制PCB板配套出售。

  • 其他封装,如QFN或DFN也可以定制开尔文测试座。

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机械性能

测试座材料: PEI

探针类型:       弹片针

工作温度:  -40 ~ 125度

探针寿命:        30~50万次

弹簧弹力:  20g ~ 30g 每Pin


电性能

额定电流:  1A

DC电阻:          100毫欧(最大)


产品编码名称描述封装引脚数材质备注
702-0001725Test SocketSOP28 0.65mm Kelvin ATESOP56PEI

702-0001952Test SocketSOP28 0.635mm Kelvin ATESOP56PEI
702-0001947Test SocketSOP20 0.65mm Kelvin ATESOP40PEI
702-0001920Test SocketSOP8 1.27mm Kelvin ATESOP16PEI
702-0001944Test SocketSOP16 1.27mm Kelvin ATESOP32PEI

提供SOP开尔文自动测试座,需更多开尔文测试座信息,请联系我们:sales@sireda.com.