Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

RJ45 测试转接头

用于RJ45等的功能测试,老化测试和自动化测试;使用寿命长,可达15000次以上

  • 引脚数: 8~16
  • Sireda:
  • 间距: 1.0 mm

RJ45 测试转接头

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1498021773838812.gif RJ45 等的测试转接插头

1498021773838812.gif比市面上销售的此类接头寿命长很多

1498021773838812.gif可用于功能测试,老化测试和自动化测试

1498021773838812.gif方便维护与更换


     

RJ45 -2.jpg

                 RJ45 78mm 公头

         

   





            

       测试座|测试治具|芯片植球|

                   

RJ45测试转接头,双面测试测试座|测试治具|芯片植球|             

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  • 用于RJ45接头等的功能测试,老化测试和自动化测试;

  • 采用优质不锈钢材料或工程塑胶材料,磨损低、寿命长

  • 信号PIN采用导电性佳、时延低、弹性极佳的铍铜材料,接触电阻小于50毫欧;

  • RJ45接头有多种款式,如带FPC可弯折、单面测试型、双面测试型等;

  • 使用寿命长,可达15000次以上;

  • 可极大降低维护成本及提高维护效率,无需更换整条RJ45 cable


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机械性能

接头材料:    PEI

接触类型:       铍铜端子

工作温度:  -40 ~ 125度

接触寿命:        1.5万次


电性能

额定电流:  1.0A

DC电阻:         <50毫欧

产品编码名称描述封装引脚数    材质备注
704-0000096测试转接头RJ45 Male 56mm MRJ458PEI
704-0000130测试转接头RJ45 Male 78mm MRJ458 PEI
704-0000316测试转接头RJ45 Male FPC 90° RJ45
8
PEI
带FPC
704-0000319
测试转接头 RJ45 Male 56mm AB MRJ45
16
PEI
双面型