Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

USB Type C 测试转接头

用于USB Type C, Micro USB, USB3.0等的功能测试,老化测试和自动化测试;使用寿命长,可达15000次以上

  • 引脚数: 4~24
  • Sireda:
  • 间距: 0.5mm

USB Type C 测试转接头

Line.png

1498021773838812.gifUSB Type C, Micro USB, USB3.0 等的测试转接插头

1498021773838812.gif比市面上销售的此类接头寿命长很多

1498021773838812.gif可用于功能测试,老化测试和自动化测试

1498021773838812.gif方便维护与更换

测试座|测试治具|芯片植球|

  704-0000293 USB Type C 公头

测试座|测试治具|芯片植球|

704-0000045   Micro USB 2.0 for Female 180°M



测试座|测试治具|芯片植球|

             704-0000293 USB Type C 设计图

1503280439935046.jpg

  • 用于USB Type C, Micro USB, USB3.0 等的功能测试,老化测试和自动化测试;

  • 采用优质不锈钢材料或工程塑胶材料,磨损低、寿命长

  • 信号PIN采用导电性佳、时延低、弹性极佳的铍铜材料,接触电阻小于50毫欧;

  • 使用寿命长,可达15000次以上;

  • 可极大降低维护成本及提高维护效率,无需更换整条USB cable


1503280498569006.jpg

机械性能

接头材料:    PEI

接触类型:       铍铜端子

工作温度:  -40 ~ 125度

接触寿命:        1.5万次


电性能

额定电流:  1.0A

DC电阻:         <50毫欧

产品编码名称描述封装引脚数    材质备注
704-0000293测试转接头USB Type-C Male MUSB Type C
24PEI
704-0000045测试转接头Micro USB 2.0 Male 180° MMicro USB5 SUS/PEI
704-0000294测试转接头HDMI Male VI MHDMI
19PEI
704-0000292测试转接头HDMI Female II MHDMI19PEI

704-0000316测试转接头RJ45 Male FPC 90°  MRJ458 PEIWith FPC

USB测试转接头产品目录,请点击下载