自动机台ATE测试座 用于CPU, eMMC, eMCP, DDR, Nand等半导体产品的测试,验证,烧录等 适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装 适用于间距0.35mm及以上产品 系统或晶圆测试 |
| 机械性能 测试座材料: PEEK陶瓷/Torlon/PPS 座头材料: AL, POM 探针类型: 弹簧探针 工作温度: -40 ~ 140度 探针寿命: 10万次 弹簧弹力: 20g ~ 30g per Pin 电性能 额定电流: 1.0A Min. DC电阻: 100毫欧(最大) |
产品编码 | 名称 | 描述 | 封装 | 引脚数 | 材质 | 备注 |
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702-0000025 | Test Socket | QFN48 0.4mm CT 6x6mm B | QFN | 48 | PEEK 陶瓷 | ATE |
702-0000883 | Test Socket | SOP24 0.65mm NA ATE 4.4x7.8mm | SOP | 24 | PEEK 陶瓷 | ATE |
702-0000933 | Test Socket | LGA24 0.5mm GSL6101 ATE 3x3mm | LGA | 24 | PPS | ATE |
702-0000625 | Test Socket | DFN8 1.0mm NA OT 4x4.2mm | DFN | 8 | PEEK 陶瓷 | Open Top |
702-0000684 | Test Socket | BGA12 0.5mm NA OT 2x2.2mm | BGA | 12 | PPS | Open Top |
斯纳达公司可提供BGA、LGA、QFN、QFP、SOP等封装的自动测试/烧录座, 更多自动机台ATE测试座请点击自动机台ATE测试座清单。如需了解更多,请联系sales@sireda.com。